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XJTAG边界测试实训室专题研讨会

日期:2010/3/22 15:02:45  点击次数:1857

亲爱的各位
欢迎您加入风标XJTAG边界扫描网上中文研讨会
演讲主题:XJTAG边界测试实训室专题研讨会 (星期三)
2010331(北京时间) 下午14:30-17:00
风标电子邀请您参加我们在2010331日(星期)下午14:30举办的网上研讨会。
随着芯片管脚密度的日益增长,封装趋向微型化,无论是开发还是生产,都将面临着巨大的挑战;同时也给测试带来了困境,利用传统的测试模式无法实现,边界扫描测试技术涌现在测试行业的舞台;那么了解和学习边界扫描测试技术,变得至关重要;测试人才的培养也开始被提上日程。
“工欲善其事,必先利其器”,优良的工具及合适的解决方案能使您在竞争中处于优势!XJTAG公司来自英国剑桥,是著名的边界扫描产品开发商,其XJTAG 边界扫描开发系统对电路设计与开发学习提供了一个实用的、富有竞争力及具有独特性能的解决方案。XJTAG通过早期测试开发、早期的设计验证、快速功能测试和回归使电路开发和样机成型的过程大大缩短,同时与风标公司合作开发的扩展系统,帮助各位更好地学习和了解边界扫描测试技术。
  届时会有XJTAG公司的专家、风标电子的工程师进行讲解和演示,欢迎来自各大企业的电子工程师,测试工程师等等,包括来自高校的教授们当然我们也欢迎参会者能进行实质性地交流,欢迎各位报名参加!研讨会整体概况:
1.       公司简介
2.       XJTAG介绍
3.       XJDirect技术,测试新突破
4.       风标边界扫描扩展系统
名额有限,希望尽快报名!
 
请登录我公司网站下载报名表格:http://www.windway.cn/Download.asp
或联系我司相关负责人Tel: +86-20-86003016  王小姐  古先生

敬祝

            商祺!

 


【风标电子• News】

 

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