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XJTAG边界扫描测试workshop

日期:2010/8/11 11:22:54  点击次数:421

尊敬的客户
    非常感谢您一直以来对广州风标电子工作的支持!
    随着微电子技术进入超大规模集成电路时代,电子电路设计越来越复杂,多层印制板、表面贴装(SMT)、圆片规模集成(WSI)和多芯片模块(MCM)在电路中的大量应用,使电路的器件布局日益复杂,电路和系统的可测试性急剧下降,测试费用在电路和系统总费用中所占的比例在不断上升;元器件的复杂的封装、密集的管脚及因电路板小型化使印制线越来越细,给电路板的线路检测、电路板故障的检查造成很大的困难,无论是在开发还是生产中,都面临着巨大的挑战,利用传统的测试模式已无法满足企业测试的要求,因此人们开始寻求更方便、更快捷的方式来替代传统的检测手段。边界扫描测试技术涌现在测试行业的舞台。
    如何弥补现有检测手段的不足?
    如何缩短产品的研制周期?
    如何让测试贯穿产品的整个生命周期?
   为了响应广大客户的要求,本公司特此于2010年9月2号在北京清华大学举办XJTAG边界扫描测试技术workshop,欢迎来自研究所、高校、开发企业和CEM(电子制造商)的硬件开发、测试工程师和项目主管参加,我们也欢迎您把您的测试难题带来进行交流。届时会有XJTAG专家以及工程师进行课程讲解和测试工程演示,有意者请尽快报名参与。
   请参会人员自备电脑,我们将提供XJTAG产品给大家现场体验(两人一套)。
 
 
                                                                     主办单位:广州市风标电子技术有限公司
                                                                                     英 XJTAG
 
workshop整体概况:
1.       公司简介
2.       XJTAG介绍
3.       XJDirect技术,测试新突破
4.       风标边界扫描扩展系统
5.     测试工程演示与用户现场体验 
名额有限,希望尽快报名!
 
请登录我公司网站下载报名表格:http://www.windway.cn/UploadFiles/2010811113446575.doc
或联系我司相关负责人:Tel: +86-20-86003016  罗先生 

【风标电子• News】

 

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