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2011年4月28号XJTAG网络研讨会通知

日期:2011/4/21 13:39:09  点击次数:1559

       
亲爱的各位:
 
欢迎您加入风标XJTAG边界扫描网上中文研讨会
 
演讲主题:XJTAG边界测试专题研讨会 (星期四)
 
2011年4月28日(北京时间)  下午14:30-17:00
风标电子邀请您参加我们在2011年4月28日(星期四)下午14:30举办的网上研讨会。
 
    如今的电子系统,大量地采用了诸如PGA、BGA、SMT、MCM等高度封装器件,使得PCB上各器件之间的连线间距越来越细密。同时,数字系统中可供测试的结点间距亦越来越小,有的甚至成为隐性的不可达结点,使得基于探针的传统测试方法将难堪重任。 作为一种结构插入的可测性设计技术,边界扫描测试技术将边界扫描测试单元(Boundery-Scan Cell,BSC)插在集成电路内部每一个输入输出引脚上。BSC的作用就相当于施加测试激励和观察测试响应的内建虚拟测试探头。因此,由BS器件构成的数字系统的可测性得到了很大的提高,其测试难度也大大降低。 为此,我们必须为这些数字系统设计新的测试工具。
“工欲善其事,必先利其器”,优良的工具及合适的解决方案能使您在竞争中处于优势!XJTAG公司来自英国剑桥,是著名的边界扫描产品开发商,其XJTAG 边界扫描开发系统对电路设计与开发学习提供了一个实用的、富有竞争力及具有独特性能的解决方案。XJTAG通过早期测试开发、早期的设计验证、快速功能测试和回归使电路开发和样机成型的过程大大缩短,同时与风标公司合作开发的扩展系统,帮助各位更好地学习和了解边界扫描测试技术。
     届时会有XJTAG公司的专家、风标电子的工程师进行讲解和演示,欢迎来自各大企业的电子工程师,测试工程师等等,包括来自高校的教授们,当然我们也欢迎参会者能进行实质性地交流,欢迎各位报名参加!研讨会整体概况:
1.       公司简介
2.       XJTAG介绍
3.       XJTAG最新2.5版本介绍,包含最新更新的技术(Layout Viewer)
4.       风标边界扫描扩展系统
名额有限,希望尽快报名!
请点击下方的报名连接,马上报名。在演讲和演示之后将会有一个问答环节。
 
 
再次诚挚地邀请您参加我们4月28日的网上研讨会。
请大家填好报名表后发送至我司邮箱:luol@windway.cn,谢谢!
 
敬祝
            商祺!
 
罗亮&林镇
Windway Ltd.  
 

【风标电子• News】

 

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