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XJTAG边界扫描测试亮相深圳Nepcon展

日期:2014/9/10 14:11:16  点击次数:540

 

XJTAG边界扫描测试亮相深圳Nepcon展
 
 
2014年8月26日至8月28日,NEPCON South China 2014于深圳会展中心隆重举行!
作为边界扫描测试开发工具的领先供应商,英国XJTAG与中国代理商广州市风标电子电子技术有限公司携手参加了此次展会,展会期间全面对XJTAG边界扫描测试技术做出了专业的技术讲解和演示,现场讲解、讨论气氛浓厚。Boundary scan test边界扫描测试为电路板测试方案引导新的方向,全面您的测试难题。
XJTAG是第一个为设计和开发工程师,测试工程师,合同制造商和实地测试工程师提供一个通用的边界扫描测试方案,提供的测试不仅针对JTAG器件,非JTAG器件也能很好的测试。
 
 
 
XJTAG边界扫描测试可以贯穿您的整个产品生命周期!
 
   
   现场我们还进行了猜密码中奖品的活动,参展观众非常踊跃参与
 
 
在10月16号-18号,我们还会参加第二届中国(绵阳)科技城国际科技博览会,继续为大家带来我们先进的边界扫描测试技术,期待大家的光临。
 
 
 
 
 
 

 

 


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